Размер шрифта

A
A

Межстрочный интервал

A
A

Цвет

A
A

Перечень оказываемых услуг ЦКП "Южный центр современной спектроскопии"

NНаименование услугиИспользуемое научное оборудованиеИспользуемые методикиПродолжительность разового оказания услуги, (час.)Стоимость разового оказания услуги для структурных подразделений ЮФУ (руб.)Стоимость разового оказания услуги для сторонних организаций без НДС (руб.)Стоимость разового оказания услуги для сторонних организаций с НДС (руб.)
1Проведение съемки ИК спектров твердых образцов в таблетках KBr в диапазоне 4000см-1 -550см-1.Инфракрасный Фурье-спектро-метр EXCALIBUR-3100 (Varian)Методика регистрации ИК спектров в таблетках KBr1.00669,46836,83964,48
2Проведение съемки ИК спектров твердых образцов в суспензии вазелинового масла в диапазоне 4000см-1 -550см-1Инфракрасный Фурье-спектро-метр EXCALIBUR-3100 (Varian)Методика регистрации ИК спектров в суспензии вазелинового масла0.50334,73418,41482,24
3Проведение съемки ИК спектров твердых образцов методом нарушенного полного внутреннего отражения в диапазоне 4000см-1 -550см-1Инфракрасный Фурье-спектро-метр EXCALIBUR-3100 (Varian)Методика регистрации ИК спектров, с использованием метода нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО)0.50334,73418,41482,24
4Проведение съемки ИК спектров полимерных образцов методом нарушенного полного внутреннего отражения в диапазоне 4000см-1 - 550см-1Инфракрасный Фурье-спектро-метр EXCALIBUR-3100 (Varian)Методика регистрации ИК спектров полимерных пленок и покрытий0.50334,73418,41482,24
5Проведение съемки ИК спектров жидких образцов методом нарушенного полного внутреннего отражения в диапазоне 4000см-1 -550см-1Инфракрасный Фурье-спектро-метр EXCALIBUR-3100 (Varian)Методика регистрации ИК спектров, с использованием метода нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО)0.50334,73418,41482,24
6Проведение съемки спектров ЭПР свободных феноксильных радикалов в растворе в вакуумированных ампулах (в анаэробных условиях) в стационарном режиме измеренийСпектрометр электронного парамагнитного резонанса ЕМХplus - 10/12 (Bruker)Проведение съемки спектров ЭПР медных и кобальтовых металлокомплексов в вакуумированных ампулах (в анаэробных условиях) в стационарном режиме измерений5.008 136,7510 170,9411 722,44
7Проведение съемки спектров ЭПР растворов медных и кобальтовых азометиновых металлокомплекс ов в вакуумированных ампулах (в анаэробных условиях) в стационарном режиме измеренийСпектрометр электронного парамагнитного резонанса ЕМХplus - 10/12 (Bruker)Проведение съемки спектров ЭПР медных и кобальтовых металлокомплексов в вакуумированных ампулах (в анаэробных условиях) в стационарном режиме измерений5.008 136,7510 170,9411 722,44
8Сопровождение научных работ посредством теоретических исследованийКластер на базе блейд-серверов (Fujitsu-Siemens)Проведение теоретических расчетов с использованием программы Гауссиан 032.002 579,083 223,853 715,62
9Проведение высокоуровневых квантовохимичес ких расчетов методами DFT и AB INITIOКластер на базе блейд-серверов (Fujitsu-Siemens)Проведение теоретических расчетов с использованием программы Гауссиан 035.006 447,708 059,639 289,07
10Проведение фотохимической реакцииОблучатель бактериальный NewportМетодика проведения фотохимической реакции2.001 187,581 484,481 710,93
11Изучение реакционной динамики возбужденных состояний при помощи спектроскопии ультра коротких процессовСпектрометр наносекундного лазерного импульсного фотолиза LP920-KS (Edinburgh Instruments)Методика регистрации время-разрешенных спектров люминесценции4.006 245,407 806,758 997,61
12Регистрация релаксации анизотропии флуоресценции растворов в нано-и пикосекундной областиСпектрометр наносекундного лазерного импульсного фотолиза LP920-KS (Edinburgh Instruments)Методика регистрации время-разрешенных спектров люминесценции2.003 122,703 903,384 498,81
13Регистрация динамики спектров флуоресценции растворов в нано-и пикосекундной областиСпектрометр наносекундного лазерного импульсного фотолиза LP920-KS (Edinburgh Instruments)Методика регистрации время-разрешенных спектров люминесценции2.003 122,703 903,384 498,81
14Измерение времени жизни флуоресценции растворов в нано-и пикосекундной областиСпектрометр наносекундного лазерного импульсного фотолиза LP920-KS (Edinburgh Instruments)Методика регистрации время-разрешенных спектров люминесценции2.003 122,703 903,384 498,81
15Измерение поляризации спектров люминесценции и возбуждения люминесценции растворовСканирующий спектрофлуориме тр Cary EclipseМетодика регистрации спектров люминесценции4.002 525,723 157,153 638,75
16Регистрация спектров хемилюминесцен ции растворовСканирующий спектрофлуориме тр Cary EclipseМетодика регистрации спектров люминесценции2.001 262,861 578,581 819,38
17Регистрация спектров фосфоресценции и возбуждения фосфоресценции растворовСканирующий спектрофлуориме тр Cary EclipseМетодика регистрации спектров люминесценции2.001 262,861 578,581 819,38
18Регистрация спектров возбуждения флуоресценции растворов в области 250 ; 650 нм в температурном интервале 77; 300 КОднолучевой сканирующий спектрофотометр Cary-50 (Varian)Методика регистрации спектров люминесценции2.001 262,861 578,581 819,38
19Регистрация спектров флуоресценции растворов в области 300 ; 1000 нм в температурном интервале 77 ; 300 КСканирующий спектрофлуориме тр Cary EclipseМетодика регистрации спектров люминесценции2.001 262,861578,581 819,38
20Регистрация динамики спектров поглощения растворов в наносекундной областиСпектрометр наносекундного лазерного импульсного фотолиза LP920-KS (Edinburgh Instruments)Методика регистрации время-разрешенных спектров поглощения2.003 122,703 903,384 498,81
21Регистрация электронных спектров поглощения растворов в области 200 -1100 нм в температурном интервале 77 -370 К

Диодно-матричн ый спектрофотометр HP-8453 (Agilent Technologies), Двухлучевой сканирующий спектрофотометр Cary-100 (Varian), Однолучевой сканирующий спектрофотометр Cary-50 (Varian), Лабораторный модульный спектроанализат ор HR-4000

(Ocean Optics)
Методика регистрации электронных спектров поглощения2.001 338,821 673,521 928,80
22Исследование динамических процессов многомерной спектроскопии ЯМРИнтегрированная аналитическая LC-SPE-NMR-MS система AVANCE-600 (Bruker), ЯМР-Фурье спектрометр UNITY-300 (Varian)Методика регистрации 13С ЯМР спектров, Методика регистрации 15N ЯМР спектров, Методика регистрации 111Cd ЯМР спектров, Методика регистрации 77Se ЯМР спектров, Методика регистрации 125Te ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных HSQC ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных HMBC ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных COSY ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных NOESY, EXSY ЯМР спектров, Методика регистрации 1H ЯМР спектров20.0024 671,1230 838,9035 543,14
23Регистрация спектров ЯМР всех возможных ядер, варьирования температуры растворовИнтегрированная аналитическая LC-SPE-NMR-MS система AVANCE-600 (Bruker), ЯМР-Фурье спектрометр UNITY-300 (Varian)Методика регистрации 13С ЯМР спектров, Методика регистрации 15N ЯМР спектров, Методика регистрации 111Cd ЯМР спектров, Методика регистрации 77Se ЯМР спектров, Методика регистрации 125Te ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных HSQC ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных HMBC ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных COSY ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных NOESY, EXSY ЯМР спектров, Методика регистрации 1H ЯМР спектров20.0024 671,1230 838,9035 543,14
24Определение чистоты соединений методом спектроскопии ЯМРИнтегрированная аналитическая LC-SPE-NMR-MS система AVANCE-600 (Bruker), ЯМР-Фурье спектрометр UNITY-300 (Varian)Методика регистрации 13С ЯМР спектров, Методика регистрации 15N ЯМР спектров, Методика регистрации 111Cd ЯМР спектров, Методика регистрации 77Se ЯМР спектров, Методика регистрации 125Te ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных HSQC ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных HMBC ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных COSY ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных NOESY, EXSY ЯМР спектров, Методика регистрации 1H ЯМР спектров10.0012 335,5615 419,4517 771,57
25Установление структур органических соединений методом спектроскопии ЯМРИнтегрированная аналитическая LC-SPE-NMR-MS система AVANCE-600 (Bruker), ЯМР-Фурье спектрометр UNITY-300 (Varian)Методика регистрации 13С ЯМР спектров, Методика регистрации 15N ЯМР спектров, Методика регистрации 111Cd ЯМР спектров, Методика регистрации 77Se ЯМР спектров, Методика регистрации 125Te ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных HSQC ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных HMBC ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных COSY ЯМР спектров, Методика регистрации двумерных NOESY, EXSY ЯМР спектров, Методика регистрации 1H ЯМР спектров100.00135 062,98168 828,73194 582,27
26Количественный элементный анализ по спектрам флюоресценции или поглощения

Спектрофлюориметр Cary Eclipse Bundle

Спектрофотометр UV-2600


1784,45
1 157,06
27Измерение и анализ спектров отражения или пропускания в видимой или ближней или дальней ИК или УФ областях спектра

ИК Фурье спектрометр Vertex 70

ИК-Фурье спектрометр ФСМ-1202


1681,97
1 005,90
28Рентгеноспектральный флуоресцентный анализМикрорентгенофлуоресцентный спектрометр M4 Tornado
11 356,77
2 001,23
29Измерение спектра рентгеновского поглощения XANES или EXAFS (стоимость услуги в час)Спектрометр рентгеновского поглощения R-XAS Looper

 - Методика выполнения измерений зарядового состояния атомов в наноматериалах методом спектроскопии рентгеновского поглощения (09.12.2009);

- Методика выполнения измерений межатомных расстояний в наноматериалах методом спектроскопии рентгеновского поглощения (EXAFS) (09.12.2009);

- Методика измерений степени насыщения наночастиц палладия водородом методом спектроскопии XANES (25.04.2012);

- Методика измерений концентрации Ce3+ в наночастицах CeO2 в процессе каталитической реакции методом спектроскопии XANES (31.05.2013);
18 106,71
11 957,40
30Изучение неоднородностей вещества с высоким пространственным и энергетическим разрешением по площади и глубине, исследование морфологии поверхности пленок, нанокристаллов, наночастиц, исследование топографии поверхности, измерение размеров поверхностных объектов в микро- и нанометровом диапазонах.

Рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB-250 (Thermo Fisher Scietific)

Универсальный оптический микроскоп Axio Imager.Z1m (Сarl Zeiss)

Сканирующий зондовый микроскоп MULTIMODE VS-АМ

Микроанализатор Camebax-Micro

821 733,4527 166,8131 310,90
31Исследование релаксационной и резонансной динамики электрических и диссипативных свойств диэлектрических материалов в широких диапазонах внешних воздействий (температуры; частоты, амплитуды и напряженности переменных и постоянных электрических и магнитных полей).

Низкотемпературный комплекс для исследований диэлектрических и пьезоэлектрических свойств материалов

Измерительная система на базе широкополосного диэлектрического и импедансного спектрометра с температурным контроллером

Векторный анализатор цепей ОБЗОР-804/1

Векторный анализатор СВЧ цепей Микран Р4М-18/1 с опцией "20А"

- Методика экспериментального определения комплексной диэлектрической проницаемости, тангенса угла диэлектрических потерь, температуры Кюри диэлектрических материалов в широком диапазоне температур 10-1000 K, частот 10-3-15·106 Гц электрического измерительного поля.

- Методика экспериментального определения пьезоэлектрических и упругих характеристик: пьезомодулей, коэффициентов электромеханической связи, механической добротности, модуля Юнга, скорости звука. пьезоэлектрического коэффициента (пьезочувствительности); ; различных сегнетопьезоэлектрических материалов в широком диапазоне температур 10-1000 K

- Методика измерения спектров СВЧ-поглощения L, включающая метод микрополосковой линии передачи и метод волноводной линии передачи.
814 635,5018 294,3821 085,05
32Исследование сегрегационных явлений в многокомпонентных керамиках и их влияние на электрофизические свойства сегнетокерамик, определяемые межзеренными границами; на прочностные характеристики керамик и других поликристаллических материалов

Рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB-250 (Thermo Fisher Scietific)

Универсальный оптический микроскоп Axio Imager.Z1m (Сarl Zeiss)

Микроанализатор Camebax-Micro

811 009,6013 762,0015 861,29
33Изучение микроструктуры, электрофизических и магнитных свойств и явлений на оборудовании, имеющимся в распоряжении ЦКП, в том числе фундаментальные и прикладные исследования с целью обнаружения и понимания возможностей их инновационного применения

Универсальный оптический микроскоп Axio Imager.Z1m (Сarl Zeiss)

Низкотемпературный комплекс для исследований диэлектрических и пьезоэлектрических свойств материалов

Измерительная система на базе широкополосного диэлектрического и импедансного спектрометра с температурным контроллером

2020 813,8226 017,2729 986,01
34Исследование фазовых переходов веществ, находящихся в твердотельном состоянии

Рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB-250 (Thermo Fisher Scietific)

Рентгеновский дифрактометр Ultima IV TYPE 111

Низкотемпературный комплекс для исследований диэлектрических и пьезоэлектрических свойств материалов

Измерительная система на базе широкополосного диэлектрического и импедансного спектрометра с температурным контроллером

Мессбауэровские спектрометры МС-1104Em

Рамановский спектрометр/микроскоп Renishaw InVia Reflex
Методика экспрессного определения температур магнитных фазовых переходов методом мессбауэровской спектроскопии88 576,9210 721,1512 356,58