Размер шрифта

A
A

Межстрочный интервал

A
A

Цвет

A
A
2 марта 2022 г.

Объявляется сбор заявок на измерения в ЦКП «Высокоразрешенная электронная микроскопия»

2 марта 2022 г.

С 1 по 18 марта открыт прием заявок на исследования (измерения) на многофункциональном просвечивающем электронном микроскопе JEM-F200 (JEOL).

Для подачи заявки необходимо заполнить форму заявки и направить ее в электронном виде в ЦКП ВЭМ caturyan@sfedu.ru.

Методики измерений, технические характеристики оборудования и «Регламент использования научного оборудования ЦКП ВЭМ» доступны на странице ЦКП.

После завершения сбора заявок будет проведена их оценка и сформирован план-график загрузки оборудования. Критерии оценивая заявки, основания для ее отклонения указаны в «Регламенте использования научного оборудования ЦКП ВЭМ».

Количество доступных часов измерений на JEM-F200 (JEOL) составляет 528 часов.

Обращаем Ваше внимание, что заявка может быть возвращена заявителю для исправления и дополнения. Внесение измерений в изначальную форму заявки не допускается.

Некоторые результаты проведенных измерений в ЦКП ВЭМ отражены в статьях в разделе публикации.

Форма заявки

Краткая ссылка на новость sfedu.ru/news/67893

Дополнительные материалы по теме