Многофункциональный просвечивающий электронный микроскоп JEM-F200 (JEOL)
Просвечивающий электронный микроскоп нового поколения JEOL JEM-F200 позволяет получать высококачественные изображения с увеличением в просвечивающем режиме ; х2 млн., а в сканирующем просвечивающем режиме - х150 млн. Такое высокое увеличение позволяет наблюдать за атомами в монокристаллическом образце кремния или наночастицах золота. Прибор является универсальным инструментом для решения широкого спектра исследовательских задач, включая элементный анализ. Разрешение микроскопа достигает 0.1 нм., что гораздо меньше длины связи в углерод-углерод (0.154 нм.) в этане. Диапазон ускоряющего напряжения электронов от 20 до 200 кВ. Возможность перемещения образа в рабочей области по осям X, Y, Z с шагом 1 нм.
Представленный микроскоп укомплектован автоэмиссионной ("холодной") электронной пушкой, которая обеспечивает высочайшую яркость, стабильность, энергетическую когерентность пучка и минимальный уровень сферических аберраций. Монохроматичность электронного пучка составляет 0.3 эВ.
В комплект микроскопа входят аналитический держатель, держатели с возможность нагрева (до 1300ºС) и охлаждения до (-196ºС). Эти держатели позволят наблюдать эволюцию нанообъектов в процессе нагрева или охлаждения на атомном уровне.
Конструкция JEM-F200 дает возможность проводить быстрый элементный анализ, вплоть до атомного пространственного разрешения Элементный анализ с возможностью детектирования элементов от бериллия до плутония в микроскопе реализован на базе энергодисперсионного спектрометра с площадью активной зоны детектора 60 мм2.
Микроскоп может использоваться в решении задач приоритетных направлений науки в соответствии со Стратегий научно-технологического развития РФ:
- получения высокоразрешающих изображений твердотельных объектов и пленок;
- разработки, создания и исследования наноразмерных структур;
- исследования наноструктурированных материалов;
- исследования ультраструктуры клеток различного типа
На данной научной установке можно решать следующие задачи:
- визуализация деталей ультраструктуры несовершенных кристаллических материалов.
- исследования доменной структуры магнитных материалов, в том числе при исследованиях материалов - элементной базы квантового компьютинга
- исследования микроструктуры кристаллов, от которых нельзя получить картину рентгеновской дифракции.
- исследования в области прочности материалов, сплавов при внешнем воздействии (изгиб, излом, высокая температура и др.).
- исследования нанообъектов в области катализа, а именно визуализация эволюции наночастиц в процессе изменения температуры.
