Размер шрифта

A
A

Межстрочный интервал

A
A

Цвет

A
A
03.02.2023

Объявляется сбор заявок на измерения в ЦКП «Высокоразрешенная электронная микроскопия»

03.02.2023

С 6 по 20 февраля открыт прием заявок на исследовании (измерения) на многофункциональном просвечивающем электронном микроскопе JEM-F200 (JEOL).

 

Для подачи заявки необходимо заполнить форму заявки и направить ее в электронном виде в ЦКП ВЭМ (caturyan@sfedu.ru).

Методики измерений, технические характеристики оборудования и «Регламент использования научного оборудования ЦКП ВЭМ» доступны  на странице ЦКП

После завершения сбора заявок будет проведена их оценка и сформирован план-график загрузки оборудования. Критерии оценивая заявки, основания для ее отклонения указаны в «Регламенте использования научного оборудования ЦКП ВЭМ».

Количество доступных часов измерений на JEM-F200 (JEOL) составляет 528 часов.

Обращаем Ваше внимание, что заявка может быть возвращена заявителю для исправления и дополнения. Внесение измерений в изначальную форму заявки не допускается.

Некоторые результаты проведенных измерений в ЦКП ВЭМ отражены в статьях в разделе публикации

Форма заявки: https://clck.ru/33SNG8

Краткая ссылка на новость sfedu.ru/news/71005

Дополнительные материалы по теме