Основная цель посещения ЮФУ - проведение бесплатного дополнительного обучения сотрудников ЮФУ, работающих на просвечивающем электронном микроскопе JEOL JEM-F200 и системе ионного утонения Ion Slicer.

В состав иностранной делегации вошли: Кентаро Саито, Япония, генеральный директор ООО «ДЖЕОЛ (РУС)», Барашков Михаил, Беларусь, сервисный инженер ООО «ДЖЕОЛ (РУС)», Хироши Цукишито, Япония, менеджер по поддержке бизнеса ООО «Токио Боэки (РУС)», Урубков Илия Владимирович, Украина, инженер по внедрению новой техники и технологии ООО «Токио Боэки (РУС)»

По результатам визита иностранной делегации сотрудники ЮФУ прошли дополнительное обучение по работе на электронном микроскопе JEOL JEM-F200 и системе ионного утонения Ion Slicer, получили ответы на накопившиеся в процессе работы на приборах вопросы.

Также был проведен совместный научный семинар, на котором были представлены результаты проведенных измерений по заявке внутренних пользователей, обсуждены направления для улучшения качества измерений.