Размер шрифта

A
A

Межстрочный интервал

A
A

Цвет

A
A
28.06.2024

Объявляется сбор заявок на измерения в ЦКП «Высокоразрешенная электронная микроскопия»

28.06.2024

С 1 по 21 июля открыт прием заявок на исследовании (измерения) на многофункциональном просвечивающем электронном микроскопе JEM-F200 (JEOL).

 

Для подачи заявки необходимо заполнить форму заявки и направить ее в электронном виде в ЦКП ВЭМ (caturyan@sfedu.ru). Форма заявки: https://vk.cc/cy1eEi

Методики измерений, технические характеристики оборудования и «Регламент использования научного оборудования ЦКП ВЭМ» доступны на странице ЦКП:https://sfedu.ru/www/stat_pages22.show?p=CVM/N13499/P

После завершения сбора заявок будет проведена их оценка и сформирован план-график загрузки оборудования. Критерии оценивая заявки, основания для ее отклонения указаны в «Регламенте использования научного оборудования ЦКП ВЭМ».

Количество доступных часов измерений на JEM-F200 (JEOL) составляет 450 часов.

Обращаем Ваше внимание, что заявка может быть возвращена заявителю для исправления и дополнения. Внесение измерений в изначальную форму заявки не допускается.

Некоторые результаты проведенных измерений в ЦКП ВЭМ отражены в статьях в разделе публикации: https://sfedu.ru/www/stat_pages22.show?p=CVM/N13836/P

 

Автор текста: Цатурян А.А. 

Краткая ссылка на новость sfedu.ru/news/75598

Дополнительные материалы по теме