Nikita Andreevich Shandyba 

Researcher

Institute of Nanotechnologies, Electronics and Equipment Engineering

E-mail:

Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript

Personal page in Russian:

https://sfedu.ru/person/shandyba

Personal page in English:

https://sfedu.ru/en/person/shandyba

Research interests:

Electron and ion-beam nanotechnologies, electron microscopy, focused ion beams, interaction of ions with a solid, methods of diagnostics and analysis of nanostructures, development and research of technological processes of manufacturing the element base of micro- and nanoelectronics devices, nanotechnology, nanomaterials, micro- and nanoscale technology , nanolithography, carbon nanotubes, oxide nanoscale structures.

Research projects:

Main scientific publications:

1. N.A. Shandyba, I.V. Panchenko, A.S. Kolomiytsev Formation of Elements of Field-emission Nanoelectronics by the Method of Focused Ion Beams // Physics and mechanics of new materials and their applications (PHENMA), 2018. P. 313-314.

2. N Shandyba, I Panchenko The formation of probes for specialized modes of scanning probe microscopy by the method of focused ion beams // "Saint Petersburg OPEN", 2018. P. 606-607.

3. A.S. Kolomiytsev, N.A. Shandyba, I.V. Panchenko, S.A. Lisitsyn Fabrication of probes for scanning near-field optical microscopy using focused ion beam // Scanning Probe Microscopy, 2018. P. 141-142.

4. И.В. Панченко, Н.А. Шандыба, А.С. Коломийцев Формирование элементов автоэмиссионной наноэлектроники методом фокусированных ионных пучков // Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях органических, неорганических наноструктур и нанобиоматериалов, 2018. Т. 2. С. 190-191.

5. И.В.Панченко, Н.А.Шандыба Формирование зондов для атомно-силовой микроскопии высокого разрешения методом фокусированных ионных пучков // Микроэлектроника и информатика, 2018. С. 11.

6. И.В.Панченко, Н.А.Шандыба Исследование процессов формирования элементов автоэмиссионной наноэлектроники методом фокусированных ионных пучков // Моделирование. Фундаментальные исследования, теория, методы и средства, 2018. С. 31-33.

7. Н.А.Шандыба, И.В.Панченко Исследование структуры интегральных микросхем методом растровой электронной микроскопии // Моделирование. Фундаментальные исследования, теория, методы и средства, 2018. С. 274-277.

8. Коломийцев А. С., Шандыба Н. А., Панченко И. В., Лисицын С. А Исследование процессов локального ионно-стимулированного осаждения углерода для формирования зондов для нанодиагностики // Сборник трудов ФизикА.СПб/2018, 2018. С. 88-89.