Коломийцев Алексей Сергеевич
Родился в г. Таганроге 11.07.1985 г. В 2007 г. с отличием окончил ТРТУ по специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника". В 2008 г. защитил магистерскую диссертацию по направлению "Электроника и микроэлектроника". С 2008 по 2011 г. обучался в очной аспирантуре по специальности 05.27.01 "Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и нано-электроника, приборы на квантовых эффектах". В 2011 г. защитил диссертацию на соискание ученой степени кандидата технических наук по теме "Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучков для создания микро- и наноструктур". С 2011 по 2012 г. ; ассистент кафедры Технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры. С 2012 г. ; доцент кафедры Нанотехнологий и микросистемной техники. С 2013 г. ; зам. директора Института нанотехнологий, электроники приборостроения по научной работе. C 2017 г. - заведующий кафедрой Нанотехнологий и микросистемной техники ИНЭП ЮФУ.
Область научных интересов:
Электронная микроскопия, фокусированные ионные пучки, взаимодействие ионов с твердым телом, методы диагностики и анализа наноструктур, разработка и исследование технологических процессов изготовления элементной базы приборов микро- и наноэлектроники.
Научные достижения:
Опубликовано более 100 научных работ, в том числе 48 работ в изданиях, индексируемых РИНЦ, 17 ; индексируемых БД Scopus, 7 ; индексируемых БД Web of Science. Автор 7 патентов на результаты интеллектуальной деятельности.
Победитель III конкурса работ молодых ученых в области нанотехнологий Rusnanotech-2011. Победитель конкурса на лучшую научно-исследовательскую работу сотрудников ЮФУ (2013 г.).
Руководитель 2-х грантов в рамках ФЦП "Научные и научно-педагогические кадры инновационной России на 2009-2013 г.г." (2011-2012 г.). Руководитель гранта РФФИ (2013-2014 г.). Победитель конкурса на право получения грантов Президента Российской Федерации для молодых ученых ; кандидатов наук (2016 г., 2019 г.), руководитель гранта Российского научного фонда (2018-2020 г.).
Член международного научном сообщества EFUG (European focused ion beam users group, http://www.imec.be/efug/).
Руководитель 7 НИР (2011-2020 г.), ответственный исполнитель 7 НИР (2009-2018 г.).
Повышение квалификации:
В период с 6 по 28 октября 2007 года прошел стажировку в ЗАО "Нанотехнология-МДТ" (г. Зеленоград) по программе освоения аналитического и технологического оборудования. В период с 13 по 16 мая 2008 года принял участие в обучающем семинаре компании EDAX в г. Санкт-Петербург по теме "Дифрактометрия обратнорассеянных электронов в РЭМ". В период с 11 по 17 октября 2008 года прошел повышение квалификации в компании FEI Company (г. Эйндховен, Нидерланды) по программе "Изучение конструкции и основных принципов работы растрового электронного микроскопа с ионной колонной Nova NanoLab 600, знакомство с новыми методиками и получение практических навыков в области применения растровой электронной микроскопии для микро- и наноэлектроники". В феврале 2011 г. прошел обучение в ООО "Системы для микроскопии и анализа" (г. Москва) по программе "Курс обучения работе с системой фокусированных ионных пучков на двухлучевых аналитических системах FEI". В ноябре 2013 г. прошел курс повышения квалификации в ФГАОУ ВПО "Южный федеральный университет" по программе "Иноязычная профессионально-ориентированная коммуникативная компетентность преподавательского корпуса".
Знание иностранных языков: английский, уровень владения C1 (Effective Operational Proficiency)
Читаемые курсы:
- Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем;
- Технология материалов и изделий электронной техники;
- Междисциплинарный проект;
- Элионные технологии.
- Введение в проектную деятельность.
- Вакуумная микроэлектроника.
Наукометрические показатели:
Scopus Author ID: 57201014538
Web of Science Researcher ID: http://www.researcherid.com/rid/E-4590-2014
ORCID: http://orcid.org/0000-0001-7483-0240
SPIN-код (elibrary.ru): 1925-8400