Размер шрифта

A
A

Межстрочный интервал

A
A

Цвет

A
A

Смирнов Владимир Александрович

+7(863) 218-40-00 доб. 30104; +7(8634) 68-08-90 доб. 30104

Кафедра радиотехнической элетроники - Заведующий кафедрой

347922, Ростовская обл., г. Таганрог, ул. Шевченко 2, корпус Е, ауд. Е-401

E-mail:
Этот e-mail адрес защищен от спам-ботов, для его просмотра у Вас должен быть включен Javascript
Персональная страница:
https://sfedu.ru/person/vasmirnov
Персональная страница на английском:
https://sfedu.ru/en/person/vasmirnov

Звание: доцент

Степень: Кандидат технических наук

Образование и повышение квалификации:

  • высшее образование: Южный федеральный университет (01.09.2005 - 30.08.2008)
    Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
    кандидат технических наук
  • высшее образование: Таганрогский радиотехнический университет (01.09.1999 - 30.06.2004)
    Микроэлектроника и полупроводниковые приборы
    Инженер

Дата начала общего стажа: 01.07.2004

Стаж по специальности (в годах): 13

Преподаваемые дисциплины:

  • Зондовые нанотехнологии
    Обучение студентов основам сканирующей зондовой микроскопии (сканирующей туннельной, атомно-силовой, магнитно-силовой, ближнепольной оптической микроскопии, зондовой нанолитографии); изучение теоретических основ физики взаимодействия зондов с поверхностью исследуемых материалов; изучение методов и методик исследования различных физических свойств поверхности материалов зондовыми методами.
  • Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем
    Дисциплина посвящена изучению физических принципов, устройства оборудования, методов и методик анализа и контроля параметров наноструктурированных материалов, элементов наноэлектроники, микро- и наносистемной техники с использованием сканирующей зондовой микроскопии.
  • Междисциплинарный проект 1-3
    Подготовка и формирование у обучающихся системного подхода в освоении и методологии решения междисциплинарных практических задач по направлению "Электроника и наноэлектроника".

Дополнительная информация:

Область научных интересов:

Нанотехнологии, наноматериалы, наноэлектроника, микро- и наносистемная техника, сканирующая зондовая микроскопия, фокусированные ионные пучки, нанолитография, углеродные нанотрубки, оксидные наноразмерные структуры, мемристорные структуры, RRAM, бионанотехнологии


Опыт работы:

2017-по н.в. - Заведующий кафедрой радиотехнической электроники, институт нанотехнологий, электроники и приборостроения Южного федерального университета

2014-2017 - Доцент кафедры нанотехнологии и микросистемной техники, институт нанотехнологий, электроники и приборостроения Южного федерального университета

2008-2014 - Доцент кафедры технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры, факультет электроники и приборостроения, Технологический институт Южного федерального университета

2007-2008 - Инженер кафедры технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры, факультет электроники и приборостроения, Технологический институт Южного федерального университета

2005-2007 - Старший научный сотрудник кафедры технологии микро- и наноэлектронной аппаратуры, факультет электроники и приборостроения, Технологический институт Южного федерального университета

2004-2005 - Инженер кафедры микроэлектроники и больших интегральных схем, факультет электроники и приборостроения, Таганрогский радиотехнический университет

Под руководством Смирнова В.А. выполнены 48 выпускных квалификационных работ (бакалавриат, специалитет, магистратура).

Разработаны и поставлены новые авторские лекционно-практические курсы "Зондовые нанотехнологии" и "Вакуумная микроэлектроника" для магистерской программы по направлению "Нанотехнологии и микросистемная техника".

Научные разработки Смирнова В.А. отмечены наградами и грамотами различного уровня:

- Почетная грамота ректора Южного федерального университета за многолетний и плодотворный вклад в развитие Южного федерального университета;

- Дипломы за лучшую научно-исследовательскую работу Южного федерального университета (2011-2014 г.);

- Диплом победителя конкурса научно-исследовательских работ в рамках V Всероссийского интеллектуального форума по нанотехнологиям "Нанотехнологии ; прорыв в будущее", Москва, МГУ имени М.В. Ломоносова;

- Диплом за 1 место в конкурсе лабораторных и методических работ "Практикум СЗМ", Москва;

- Диплом победителя в номинации "Технические науки" в конкурсе области научно-исследовательской работы за 2011-2012 учебный год "Лучший научный руководитель студентов" среди профессорско-преподавательского состава Южного федерального университета.

Смирнов В.А. принимает активное участие в научных конференциях и семинарах различного уровня:

  • International Conference "Scanning Probe Microscopy", Ekaterinburg, 26-29 August 2018.

  • 9th European Workshop on Molecular Beam Epitaxy EuroMBE 2017, St. Petersburg, 19-22 March 2017.

  • International Conference "Optoelectronics, Photonics, Engineering and Nanostructures", St. Petersburg, 3-6 April 2017-2018.

  • II German-Russian Interdisciplinary Workshop NANODESIGN: Physics, Chemistry and Computer modeling, Rostov-On-Don, SFU, 2013

  • International Symposium on "Physics and Mechanics of New Materials and Underwater Applications" (PHENMA), 2013-2018
  •  XVIII Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел (РЭМ), г. Черноголовка Московской обл., 2013-2016 г.

  • Symposium and summer school “Nano and Giga Challenges in Electronics, Photonics and Renewable Energy (NGC 2011)" Moscow, 2011
  • Международная научно-техническая конференция "Нанотехнологии", Таганрог, 2012-2015 г.
  • Молодежная научная конференция "NanoTech-2015", Таганрог, 2015
  • XI Российская конференция по физике полупроводников, Санкт-Петербург, 16-20 сентября 2013 г.
  • V Международной научно-практической конференции "Актуальные проблемы биологии, нанотехнологий и медицины", г. Ростов-на-Дону, 3-5 октября 2013 г.
  • 11-й Курчатовская молодежная научная школа, Москва, 12-15 ноября 2013 г.
  • Russian-Taiwanese Symposium “Physics and Mechanics of New Materials and Their Applications" 2012
  • 14 научная молодежная школа "Физика и технология микро- и наносистем", г. Санкт-Петербург, 2011 г.
  • Международная научно-техническая конференция и молодежная школа-семинар "Нанотехнологии-2010", Дивноморское, 19-24 сентября 2010 г.
  • НТК "Нанотехнологии функциональных материалов" (НФМ 10), г. Санкт-Петербург, 22-24 сентября 2010 г.
  • XIII Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород, 2009 г.

Повышение квалификации:

  • Удостоверение о повышении квалификации N 612407480198 от 30.06.2018, Обучение по программе "Оказание первой доврачебной помощи", 72 часа, ФГАОУ ВО "Южный федеральный университет".
  • Удостоверение о повышении квалификации N 612407480460 от 20.07.2018, Обучение по программе "Информационные технологии в профессиональной деятельности", 72 часа, ФГАОУ ВО "Южный федеральный университет".
  • Сертификат N С97485b6468d0bdec6 от 25.07.2018 г. Обучение по курсу "Как стать наставником проектов", 72 часа, Акадения наставников.Сколково.
  • Удостоверение о повышении квалификации N 612405994760 от 14.12.2017, Обучение по программе "Технологии онлайн-обучения в деятельности преподавателя", 72 часа, ФГАОУ ВО "Южный федеральный университет".
  • Удостоверение о повышении квалификации N 612405994426 от 07.09.2017, Обучение по программе "Управление и экономика в высшем образовании", 144 часа, ФГАОУ ВО "Южный федеральный университет".
  • Удостоверение о повышении квалификации, Обучение по программе "Проектирование и механизмы реализации образовательных программ", 144 часа, ФГАОУ ВО "Южный федеральный университет".
  • Сертификат обучение по программе "Основы работы на сканирующем зондовом микроскопе НаноСкан 3D и наносклерометрическом модуле зондовой нанолаборатории Ntegra", ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (Москва, 2013 г.).
  • "Разработка и внедрение в учебный процесс современных образовательных технологий и нового поколения образовательных программ", ФГАОУ ВО "Южный федеральный университет" (Ростов-на-Дону, 2012 г.).
  • "Лучевые и плазменные методы формирования наноструктур интегральной электроники", Государственный институт новых форм обучения (Москва, 2010 г.).
  • "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии", Государственная корпорация "Российская корпорация нанотехнологий", (Москва, 2008 г.)
  • "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях. Наноматериалы" по программе "Обеспечение единства измерений", Академия стандартизации, метрологии и сертификации (Москва, 2008 г.).
  • "Лазерная техника и лазерные технологии для микро- и наноэлектроники", LIMO Lissotschenko Mikrooptic GmbH (Германия, Дортмунд, 2007 г.).

Значимые проекты:

Смирнов В.А. принимает активное участие в выполнении НИОКР. С 2004 по 2018 гг. являлся руководителем 2 НИР, зам. руководителя 9 НИР и исполнителем 18 НИР. Результаты проведенных НИОКР внедрены в производство и широко используются в учебном процессе Южного федерального университета. Является руководителем гранта "Теоретическое и экспериментальное исследование процессов формирования и мемристорных свойств массивов оксидных наноразмерных структур титана методами зондовых нанотехнологий", заказчик Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российский фонд фундаментальных исследований", 2014-2015 г.

При его непосредственном участии с 2004-2010 гг. в рамках Федеральных целевых программ "Образование" и "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации" создан и оборудован крупнейший на Юге России научно-образовательный центр "Нанотехнологии" Южного федерального университета.

Членство в профессиональных и общественных организациях/ассоциациях/ сообществах:

- член Ученого совета института нанотехнологий, электроники и приборостроения ЮФУ;

- член Учебно-методического совета института нанотехнологий, электроники и приборостроения ЮФУ;

- член Редакционно-издательского совета ЮФУ.

Публикации в журналах, индексируемых в базах данных "Web of Science", "Scopus", "РИНЦ"

Смирнов В.А. имеет более 200 публикаций, из них 10 учебных изданий, 139 научных трудов, используемых в образовательном процессе Южного федерального университета.

а) научные труды:

- SCOPUS ; 41 публикация, 315 цитирования, индекс Хирша - 12:

- Polyakova V.V., Smirnov V.A., Ageev O.A. A Study of Nanoscale Profiling Modes of a Silicon Surface via Local Anodic Oxidation // Nanotechnologies in Russia, 2018, Vol. 13, Nos. 1;2, pp. 84;89.

- Smirnov V.A., Tominov R.V., Alyabeva N.I., Ilina M.V., Polyakova V.V., Bykov Al.V., Ageev O.A. Atomic Force Microscopy Measurement of the Resistivity of Semiconductors // Technical Physics, 2018, Vol. 63, No. 8, pp. 1236;1241.

- Tominov R.V., Smirnov V.A., Chernenko N.E., Ageev O.A. Study of the Regimes of Scratching Probe Nanolithography // Nanotechnologies in Russia, 2017, Vol. 12, Nos. 11;12, pp. 650;657.

- Il'ina M.V., Il'in O.I., Blinov Y.F., Smirnov V.A., Kolomiytsev A.S., Fedotov A.A., Konoplev B.G., Ageev O.A. Memristive switching mechanism of vertically aligned carbon nanotubes // (2017) Carbon, 123, pp. 514-524.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85026730303&doi=10.1016%2fj.carbon.2017.07.090&partnerID=40&md5=a7d01925c276b8ba4943dc847ef937c4

- Ageev O.A., Blinov Y.F., Ilina M.V., Ilin O.I., Smirnov V.A. Modeling and experimental study of resistive switching in vertically aligned carbon nanotubes // (2016) Journal of Physics: Conference Series, 741 (1), N 012168.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84989329007&doi=10.1088%2f1742-6596%2f741%2f1%2f012168&partnerID=40&md5=75c89a29e14262ad1f785b32d3d2e08c

- Avilov V.I., Ageev O.A., Konoplev B.G., Smirnov V.A., Solodovnik M.S., Tsukanova O.G. Study of the phase composition of nanostructures produced by the local anodic oxidation of titanium films // (2016) Semiconductors, 50 (5), pp. 601-606.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-4971659093&doi=10.1134%2fS1063782616050043&partnerID=40&md5=70326fae5ebd4a0c87ea71229801df41

- Ageev O.A., Blinov Y.F., Ilina M.V., Ilin O.I., Smirnov V.A., Tsukanova O.G. Study of adhesion of vertically aligned carbon nanotubes to a substrate by atomic-force microscopy // (2016) Physics of the Solid State, 58 (2), pp. 309-314.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84958553160&doi=10.1134%2fS1063783416020037&partnerID=40&md5=e420eede661bceb7c05e2cfc911890a1

- Avilov V.I., Ageev O.A., Jityaev I.L., Kolomiytsev A.S., Smirnov V.A. Investigation of memristor effect on the titanium nanowires fabricated by focused ion beam // (2016) Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 10224, статья N 102240T, .

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85011545495&doi=10.1117%2f12.2267084&partnerID=40&md5=fcbb7a51dfe7eda726ceeeba57a6bddd

- Klimin V.S., Solodovnik M.S., Smirnov V.A., Eskov A.V., Tominov R.V., Ageev O.A. A study of the vertical walls and the surface roughness GaAs after the operation in the combined plasma etching // (2016) Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, 10224, статья N 102241Z.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85011589850&doi=10.1117%2f12.2267120&partnerID=40&md5=a2553d0a037b2bf6ad35cfbf1e820116

- Ageev O.A., Balakirev S.V., Bykov A.V., Gusev E.Y., Fedotov A.A., Jityaeva J.Y., Ilin O.I., Ilina M.V., Kolomiytsev A.S., Konoplev B.G., Krasnoborodko S.U., Polyakov V.V., Smirnov V.A., Solodovnik M.S., Zamburg E.G. Development of new metamaterials for advanced element base of micro- and nanoelectronics, and microsystem devices // (2016) Springer Proceedings in Physics, 175, pp. 563-580.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84952056782&doi=10.1007%2f978-3-319-26324-3_40&partnerID=40&md5=8e12d7f6956ef307366d27a0a7f915fc

- Ageev O.A., Bykov A.V., Kolomiitsev A.S., Konoplev B.G., Rubashkina M.V., Smirnov V.A., Tsukanova O.G. Study of modification methods of probes for critical-dimension atomic-force microscopy by the deposition of carbon nanotubes // (2015) Semiconductors, 49 (13), pp. 1743-1748.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84949950172&doi=10.1134%2fS1063782615130023&partnerID=40&md5=044644fff299963fa69dcdee9b43de2e

- Ageev O.A., Ilin O.I., Rubashkina M.V., Smirnov V.A., Fedotov A.A., Tsukanova O.G. Determination of the electrical resistivity of vertically aligned carbon nanotubes by scanning probe microscopy // (2015) Technical Physics, 60 (7), pp. 1044-1050.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84937391219&doi=10.1134%2fS1063784215070026&partnerID=40&md5=4cb3d9daa8f20ddab92648986e168fc2

- Avilov V.I., Ageev O.A., Blinov Y.F., Konoplev B.G., Polyakov V.V., Smirnov V.A., Tsukanova O.G. Simulation of the formation of nanosize oxide structures by local anode oxidation of the metal surface // (2015) Technical Physics, 60 (5), pp. 717-723.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84930226085&doi=10.1134%2fS1063784215050023&partnerID=40&md5=86cd364b51c2355ba859c179ab537599

- Ageev O.A., Blinov Y.F., Ilin O.I., Konoplev B.G., Rubashkina M.V., Smirnov V.A., Fedotov A.A. Study of the resistive switching of vertically aligned carbon nanotubes by scanning tunneling microscopy // (2015) Physics of the Solid State, 57 (4), pp. 825-831.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84928248443&doi=10.1134%2fS1063783415040034&partnerID=40&md5=003f8ab379aef10623f1bdebc2946d02

- Avilov V.I., Ageev O.A., Smirnov V.A., Solodovnik M.S., Tsukanova O.G. Studying the modes of nanodimensional surface profiling of Gallium Arsenide epitaxial structures by local anodic oxidation // (2015) Nanotechnologies in Russia, 10 (3-4), pp. 214-219.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84928777686&doi=10.1134%2fS1995078015020032&partnerID=40&md5=d1b1a6fe5632efd21f61a1efbe4d2c38

- Smirnov V.A. Nanolithography by local anodic oxidation of thin titanium film // (2015) Piezoelectrics and Nanomaterials: Fundamentals, Developments and Applications, pp. 85-103.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84956751997&partnerID=40&md5=ec4373501bfcbc3479fd489c828d0dae

- Ageev O.A., Kolomiytsev A.S., Bykov A.V., Smirnov V.A., Kots I.N. Fabrication of advanced probes for atomic force microscopy using focused ion beam // (2015) Microelectronics Reliability, 55 (9-10), pp. 2131-2134.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84943456250&doi=10.1016%2fj.microrel.2015.06.079&partnerID=40&md5=b3d6720235ded1c3a03b6157473c7762

- Ageev O.A., Alyabieva N.I., Konoplev B.G., Smirnov V.A., Tkachuk V.V. Investigation of the nanodiagnostics probe modes for semiconductor resistivity measurements by atomic force microscopy // (2014) Advanced Materials Research, 894, pp. 374-378.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84903363769&doi=10.4028%2fwww.scientific.net%2fAMR.894.374&partnerID=40&md5=5bd5f49822d80c650641ebc15ace7ec4

- Ageev O.A., Ilin O.I., Kolomiytsev A.S., Rubashkina M.V., Smirnov V.A., Fedotov A.A. Investigation of effect of geometrical parameters of vertically aligned carbon nanotubes on their mechanical properties // (2014) Advanced Materials Research, 894, pp. 355-359.

- Avilov, V.I., Ageev, O.A., Kolomiitsev, A.S., Konoplev, B.G., Smirnov, V.A., Tsukanova, O.G. Formation of a memristor matrix based on titanium oxide and investigation by probe-nanotechnology methods // (2014) Semiconductors, 48 (13), pp. 1757-1762.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84919387246&doi=10.1134%2fS1063782614130028&partnerID=40&md5=6c6996ebd76cf89d9a823b74b2bf188d

- Ageev O.A., Blinov Y.F., Il'in O.I., Kolomiitsev A.S., Konoplev B.G., Rubashkina M.V., Smirnov V.A., Fedotov A.A. Memristor effect on bundles of vertically aligned carbon nanotubes tested by scanning tunnel microscopy // (2013) Technical Physics, 58 (12), pp. 1831-1836.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84890098812&doi=10.1134%2fS1063784213120025&partnerID=40&md5=9f9fb6cbcfdfcf44ab995a033d9a388a

- Ageev O.A., Konoplev B.G., Rubashkina M.V., Rukomoikin A.V., Smirnov V.A., Solodovnik M.S. Studying the effect of geometric parameters of oriented GaAs nanowhiskers on Young's modulus using atomic force microscopy // (2013) Nanotechnologies in Russia, 8 (1-2), pp. 23-28.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84874519201&doi=10.1134%2fS1995078013010023&partnerID=40&md5=b7a7fa959d38818b4d471bf35daf7cf0

- Ageev O.A., Smirnov V.A., Solodovnik M.S., Rukomoikin A.V., Avilov V.I. A study of the formation modes of nanosized oxide structures of gallium arsenide by local anodic oxidation // (2012) Semiconductors, 46 (13), pp. 1616-1621.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84871315617&doi=10.1134%2fS1063782612130027&partnerID=40&md5=57ba904ac1cab111be1362365b2ae6f4

- Ageev O.A., Il'in O.I., Kolomiitsev A.S., Konoplev B.G., Rubashkina M.V., Smirnov V.A., Fedotov A.A. Development of a technique for determining Young's modulus of vertically aligned carbon nanotubes using the nanoindentation method // (2012) Nanotechnologies in Russia, 7 (1), pp. 47-53.

https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84857846908&doi=10.1134%2fS1995078012010028&partnerID=40&md5=24586c76eb94f77b2bdada5bc448443b

- Konoplev B.G., Ageev O.A., Smirnov V.A., Kolomiitsev A.S., Serbu N.I. Probe modification for scanning-probe microscopy by the focused ion beam method // (2012) Russian Microelectronics, 41 (1), pp. 41-50. https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84862102359&doi=10.1134%2fS1063739712010052&partnerID=40&md5=64a893e4aff4573c9c00c1b9a26fb471

и др.

- РИНЦ ; 62 публикаций, 520 цитирований, индекс Хирша - 14:

- Смирнов В.А., Томинов Р.В., Авилов В.И., Алябьева Н.И., Вакулов З.Е., Замбург Е.Г., Хахулин Д.А., Агеев О.А. Исследование мемристорного эффекта в нанокристаллических пленках ZnO // Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, вып. 1, - С. 77-82.

- Смирнов В.А., Томинов Р.В., Алябьева Н.И., Ильина М.В., Полякова В.В., Быков Ал.В., Агеев О.А. Методика определения удельного сопротивления полупроводниковых материалов методом атомно-силовой микроскопии // Журнал технической физики, 2018, том 88, вып. 8, -С. 1273-1278.

- Авилов В.И., Агеев O.А., Коноплев Б.Г., Смирнов В.А., Солодовник М.С., Цуканова О.Г. Исследование фазового состава наноразмерных структур, полученных локальным анодным окислением пленок титана // Физика и техника полупроводников. 2016. Т. 50. N 5. С. 612-618.

- Агеев О.А., Блинов Ю.Ф., Ильина М.В., Ильин О.И., Смирнов В.А., Цуканова О.Г. Исследование адгезии вертикально ориентированных углеродных нанотрубок к подложке методом атомно-силовой микроскопии // Физика твердого тела. 2016. Т. 58. N 2. С. 301-306.

- Агеев О.А., Ильин О.И., Рубашкина М.В., Смирнов В.А., Федотов А.А., Цуканова О.Г. Определение удельного сопротивления вертикально ориентированных углеродных нанотрубок методами сканирующей зондовой микроскопии // Журнал технической физики. 2015. Т. 85. N 7. С. 100-106.

- Авилов В.И., Агеев О.А., Блинов Ю.Ф., Коноплев Б.Г., Поляков В.В., Смирнов В.А., Цуканова О.Г. Моделирование процесса формирования оксидных наноразмерных структур методом локального анодного окисления поверхности металла // Журнал технической физики. 2015. Т. 85. N 5. С. 88-93.

- Агеев О.А., Блинов Ю.Ф., Ильин О.И., Коноплев Б.Г., Рубашкина М.В., Смирнов В.А., Федотов А.А. Исследование резистивного переключения вертикально ориентированной углеродной нанотрубки методами сканирующей зондовой микроскопии // Физика твердого тела. 2015. Т. 57. N 4. С. 807-813.

- Авилов В.И., Агеев О.А., Смирнов В.А., Солодовник М.С., Цуканова О.Г. Исследование режимов наноразмерного профилирования поверхности эпитаксиальных структур арсенида галлия методом локального анодного окисления // Российские нанотехнологии. 2015. Т. 10. N 3-4. С. 42-46.

- Авилов В.И., Агеев О.А., Коломийцев А.С., Коноплев Б.Г., Смирнов В.А., Цуканова О.Г. Формирование и исследование матрицы мемристоров на основе оксида титана методами зондовой нанотехнологии // Известия высших учебных заведений. Электроника. 2014. N 2 (106). С. 50-57.

- Агеев О.А., Блинов Ю.Ф., Ильин О.И., Коломийцев А.С., Коноплев Б.Г., Рубашкина М.В., Смирнов В.А., Федотов А.А. Мемристорный эффект на пучках вертикально ориентированных углеродных нанотрубок при исследовании методом сканирующей туннельной микроскопии // Журнал технической физики. 2013. Т. 83. N 12. С. 128-133.

- Агеев О.А., Коноплев Б.Г., Рубашкина М.В., Рукомойкин А.В., Смирнов В.А., Солодовник М.С. Исследование влияния на модуль юнга геометрических параметров ориентированных нитевидных нанокристаллов gaas методом атомно-силовой микроскопии // Российские нанотехнологии. 2013. Т. 8. N 1-2. С. 27-32.

- Агеев О.А., Смирнов В.А., Солодовник М.С., Рукомойкин А.В., Авилов В.И. Исследование режимов формирования оксидных наноразмерных структур арсенида галлия методом локального анодного окисления // Известия высших учебных заведений. Электроника. 2012. N 2 (94). С. 43-50.

- Коноплев Б.Г., Агеев О.А., Смирнов В.А., Коломийцев А.С., Сербу Н.И. Модификация зондов для сканирующей зондовой микроскопии методом фокусированных ионных пучков // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. N 1. С. 47-56

и др.

Полный список публикаций РИНЦ доступен по ссылке: http://elibrary.ru/authors.asp

б) учебные издания:

- Авилов В.И., Смирнов В.А. Учебно-методическое пособие "Зондовая нанолитография оксидных наноразмерных структур" // Ростов-на-Дону - Таганрог: Изд-во ЮФУ, 2017. 30 с.

- Смирнов В.А., Агеев О.А., Рубашкина М.В. Учебно-методическое пособие "Исследование поверхности и определение геометрических параметров вертикально ориентированных углеродных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии" // Ростов-на-Дону - Таганрог: Изд-во ЮФУ, 2014. ; 32 с.

и др.

в) патенты:

- Элемент памяти на основе вертикально ориентированных углеродных нанотрубок, Патент РФ на полезную модель N160315 / Ильина М.В., Агеев О.А., Блинов Ю.Ф., Смирнов В.А.

- Элемент резистивной памяти на основе вертикально ориентированных углеродных нанотрубок, Патент РФ на полезную модель N142375 / Смирнов В.А., Агеев О.А., Рубашкина М.В.

- Элемент памяти на основе мемристорных наноструктур, Патент РФ на полезную модель N 148262 / Смирнов В.А., Агеев О.А., Авилов В.И.

и др.

Рейтинг НПР:

за 2013 г. - 110 баллов (приказ N564-ОД от 11.11.2014 г.).

за 2014 г. - 120,2 баллов (приказ N486-ОД от 10.11.2015 г.).

за 2015 г. - 204,1 баллов (приказ N44 от 31.01.2017 г.).

за 2016 г. - 174 балла (приказ N10 от 16.01.2018 г.).

Учебно-методические ресурсы