No п/п | Наименование методики | Наименование организации, аттестовавшей методику | Дата аттестации число, месяц, год |
|---|---|---|---|
1 | Исследование морфологии поверхности образцов методами сканирующей зондовой микроскопии. | - | - |
2 | Исследование морфологии поверхности образцов методом растровой электронной микроскопии. Получение изображений с высоким пространственным разрешением. | - | - |
3 | Получение изображений поверхности (микроскопия) с использованием ионного пучка. | - | - |
4 | Локальное ионно-лучевое травление структур. Изготовление микросрезов и микросечений. Травление образцов по заданной конфигурации. | - | - |
5 | Получение изображений с высоким разрешением (в режиме низких энергий). | - | - |
6 | Исследование образцов методами спектроскопии фотолюминесценции | - | - |
7 | Осаждение тонких пленок металлов методами физического осаждения из паровой фазы (PVD) | - | - |