Темы семинара:

- Продвинутые электрические измерения;

- Нерезонансные методики (измерения рельефа и механических свойств) с использованием уникальной HybriD ModeТМ;

- Применения уникальной интегрированной AFM/Confocal/Raman/SNOM/TERS системы;

- Анонс новой разработки – NTEGRA SPECTRA II и NTEGRA IR;

- СЗМ TITANIUM для автоматизированных измерений с многозондовым Revolution Cartridge;

- Новое поколение АСМ контроллера Novel.

Докладчики:

- Профессор Виктор Быков, д.т.н, президент NT-MDT Co, "Новые возможности сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии",

- Артём Шелаев, ведущий инженер NT-MDT Co, “Ближнепольная ИК-микроскопия и спектроскопия Комбинационного Рассеяния с нанометровым пространственным разрешением".