Шандыба Никита Андреевич
Дата начала общего стажа: 10.11.2017
Стаж по специальности (в годах): 1
Дополнительная информация:
Родился в г. Таганроге 20.09.1998 г. В 2016 году окончил МАОУ СОШ N 12 в г. Таганроге. В этом же году поступил в Южный федеральный университет (Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения) на направление подготовки 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника". В 2017 году принят на работу по совместительству на кафедру радиотехнической электроники лаборантом, где и работает по настоящее время.
Область научных исследований:
Электронно- и ионно-лучевые нанотехнологии, электронная микроскопия, фокусированные ионные пучки, взаимодействие ионов с твердым телом, методы диагностики и анализа наноструктур, разработка и исследование технологических процессов изготовления элементной базы приборов микро- и наноэлектроники, нанотехнологии, наноматериалы, микро- и наносистемная техника, нанолитография, углеродные нанотрубки, оксидные наноразмерные структуры.
Научные достижения:
Диплом 3 степени за победу в городском конкурсе "Молодой инноватор города Таганрога" в номинации "Лучший инновационный проект";
Свидетельство за отличную учебу и активное участие в общественной деятельности;
Стипендиат главы Администрации города Таганрога;
Сертификат об участии в молодежном инновационном конвенте Ростовской области;
Сертификат об участии в XXVII Российской конференции по электронной микроскопии и 5-ой Школы молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях органических, неорганических наноструктур и нано-биоматериалов";
Сертификат за 3 место в конкурсе электронно-микроскопических изображений "Красота микро- и наномира" на школе молодых ученых и конференции "РКЭМ - 2018";
Исполнитель гранта РНФ 2018 года "Проведение инициативных исследований молодыми учеными" Президентской программы исследовательских проектов, реализуемых ведущими учеными, в том числе молодыми учеными.
Основные научные публикации:
1. N.A. Shandyba, I.V. Panchenko, A.S. Kolomiytsev Formation of Elements of Field-emission Nanoelectronics by the Method of Focused Ion Beams // Physics and mechanics of new materials and their applications (PHENMA), 2018. P. 313-314.
2. N Shandyba, I Panchenko The formation of probes for specialized modes of scanning probe microscopy by the method of focused ion beams // "Saint Petersburg OPEN", 2018. P. 606-607.
3. A.S. Kolomiytsev, N.A. Shandyba, I.V. Panchenko, S.A. Lisitsyn Fabrication of probes for scanning near-field optical microscopy using focused ion beam // Scanning Probe Microscopy, 2018. P. 141-142.
4. И.В. Панченко, Н.А. Шандыба, А.С. Коломийцев Формирование элементов автоэмиссионной наноэлектроники методом фокусированных ионных пучков // Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях органических, неорганических наноструктур и нанобиоматериалов, 2018. Т. 2. С. 190-191.
5. И.В.Панченко, Н.А.Шандыба Формирование зондов для атомно-силовой микроскопии высокого разрешения методом фокусированных ионных пучков // Микроэлектроника и информатика, 2018. С. 11.
6. И.В.Панченко, Н.А.Шандыба Исследование процессов формирования элементов автоэмиссионной наноэлектроники методом фокусированных ионных пучков // Моделирование. Фундаментальные исследования, теория, методы и средства, 2018. С. 31-33.
7. Н.А.Шандыба, И.В.Панченко Исследование структуры интегральных микросхем методом растровой электронной микроскопии // Моделирование. Фундаментальные исследования, теория, методы и средства, 2018. С. 274-277.
8. Коломийцев А. С., Шандыба Н. А., Панченко И. В., Лисицын С. А Исследование процессов локального ионно-стимулированного осаждения углерода для формирования зондов для нанодиагностики // Сборник трудов ФизикА.СПб/2018, 2018. С. 88-89.
Наукометрические показатели:
SPIN-код (elibrary.ru): 8875-8810