| - изготовления и подготовки к исследованию объектов в различных твердотельных состояниях (керамика, "тонкие" и "толстые" плёнки); | |
 |  |
| - изучения микроструктуры объектов; | |
 |  |
| - исследования электрофизических свойств конденсированных сред. | |
 |
|
Оборудование для изготовления объектов
 | 1. Печь камерная Модель:LT30/ 1300 Температура 1300°C, Точность 1 °C Назначение: Спекание керамики 2. Печь с циркуляцией воздуха Модель:30/850 С Температура 850 °C, Точность 1 °C Назначение: Спекание керамики |
3. Электропечь Модель: SNOL 30/1300 C Температура 1300 °C, Точность 1 °C Назначение: Спекание керамики 4. Электропечь Модель: SNOL 7/2/1300 C Температура 1300 °C, Точность 1 °C Назначение: Спекание керамики |  |
| 1.2. Установка для получения тонких эпитаксиальных плёнок сложных оксидов "Плазма 50СЭ" | |
 | |
Установка предназначена для получения методом реактивного ВЧ распыления тонких пленок сложных оксидов. Состав:
| |
1.3. Оборудование для пробоподготовки | |
| Прецизионный станок алмазной проволочной резки. Модель: STX-602 . Рез 0,3 мм Точность 10 мкм Назначение: прецизионная резка керамических заготовок и пластин на элементы алмазной проволокой |  |
Высокоточный универсальный отрезной и шлифовальный станок. Модель: Accutom 50. Точность 50 мкм. Назначение: прецизионная резка и шлифовка керамических заготовок и пластин. |  |
Прецизионный автоматический станок для шлифовки и полировки. Модель: UNIPOL1502 (15")
Назначение: финишная автоматическая шлифовка и полировка керамических заготовок и пластин. |  |
Оборудование для изучения микроструктуры
 | Модель: Leica DMI 5000M Стол: моторизованный Методы: Все возможные как для проходящего, так и для отражённого света. Увеличение: до 2000 кратного |
Модель: Axio Imager.Z1m(Сarl Zeiss)
Увеличение: до 2000 кратного |
|
Оборудование для исследования электрофизических свойств объектов
3.1. Измерительная система на базе широкополосного диэлектрического и импедансного спектрометра с температурным контроллером
Concept 40 System
(Novocontrol)
3.2. Комплект измерительных приборов
Компактный измеритель LCR Agilent 4263B; Прецизионный измеритель LCR Agilent E4980A; Измеритель больших сопротивлений Agilent 4339B; Частотомер Agilent 53132A; Измеритель ёмкости Agilent 4268A; Измеритель ёмкости Agilent 4288A; Прецизионный измеритель LCR Agilent 4285A; Прецизионный анализатор импеданса цифровой WK 6500B; Широкополосный тестер APC Wide-Range d33; Прецизионный измеритель импеданса Agilent 4294A; Комбинированный анализатор сигналов Agilent 4395A; Осциллограф запоминающий Wavesurfer 24 XS; |  |
 | |
 | |
 | |
Назначение: Исследование диэлектрических и пьезоэлектрических характеристик материалов в широком температурном и частотном диапазонах. | |
Перечень оборудования ЦКП "Электромагнитные, электромеханические и тепловые свойства твёрдых тел":
| No п/п | Наименование единицы оборудования (количество) | Раздел классификатора научного оборудования | Марка | Изготовитель | Страна | Год выпуска | Наличие сертифика та и других признаков метрологи ческого обеспечени я (+/-) | Источник финансирования закупки научного оборудования |
| 1 | Измеритель больших электросопротивлений 1 ед. | Омметры цифровые | Agilent 4339B | Agilent Technologies | СОЕДИНЕН НЫЕ ШТАТЫ | 2008 | - | национальный проект "Образование" |
| 2 | Измерительная система на базе широкополосного диэлектрического и импедансного спектрометра с температурным контроллером 1 ед. | Приборы электроизмерительные цифровые комбинированные | Novocontrol Сoncept-40 Systems | Novocontrol Technologies GmbH | ГЕРМАНИЯ | 2008 | - | национальный проект "Образование" |
| 3 | Низкотемпературный комплекс для исследований диэлектрических и пьезоэлектрических свойств материалов 1 ед. | Установки и устройства для измерения электрических величин прочие | CCS-850 | Janis Research Company | СОЕДИНЕН НЫЕ ШТАТЫ | 2007 | - | национальный проект "Образование" |
| 4 | Печь камерная 1 ед. | Электропечи лабораторные | LT30/ 1300 | Nabertherm | ГЕРМАНИЯ | 2007 | - | национальный проект "Образование" |
| 5 | Прецизионный анализатор импеданса цифровой WK 6520B 1 ед. | Приборы электроизмерительные цифровые прочие | WK 6520B | Wayne Kerr Electronics | СОЕДИНЕН НОЕ КОРОЛЕВСТ ВО | 2008 | - | национальный проект "Образование" |
| 6 | Прецизионный измеритель LCR Agilent E4980A 1 ед. | Установки и устройства для измерения электрических величин прочие | Agilent E4980A | Agilent Technologies | СОЕДИНЕН НЫЕ ШТАТЫ | 2008 | - | национальный проект "Образование" |
| 7 | Рентгеновский фотоэлектронный микрозонд ESCALAB-250 1 ед. | Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры (РФЭС) | ESCALAB - 250 (зав N А 1322) | Thermo Fisher Scietific | СОЕДИНЕН НЫЕ ШТАТЫ | 2008 | - | национальный проект "Образование" |
| 8 | Универсальный оптический микроскоп Axio Imager.Z1m (Сarl Zeiss) 1 ед. | Микроскопы конфокальные сканирующие | Axio Imager.Z1m | Сarl Zeiss | ГЕРМАНИЯ | 2007 | - | национальный проект "Образование" |
| 9 | Установка для получения тонких эпитаксиальных плёнок сложных оксидов 1 ед | Системы для формирования пленочных материалов | Плазма 50СЭ | ООО "ЭЛИТЕХ" | РОССИЯ | 2007 | - | национальный проект "Образование" |
| 10 | Широкополосный тестер 38 APC WideRange d33 Tester 1 ед. | Анализаторы сигналов | APC Wide-Range d33 | АРС International | СОЕДИНЕН НЫЕ ШТАТЫ | 2008 | - | национальный проект "Образование" |
| 11 | Электропечь SNOL 7 1 ед. | Электропечи лабораторные | SNOL 7/2/1300 C | SNOL | ЛАТВИЯ | 2007 | - | национальный проект "Образование" |