Размер шрифта

A
A

Межстрочный интервал

A
A

Цвет

A
A

Оборудование

Скачать полный каталог оборудования ЦКП "Высокие технологии" ЮФУ

Уникальная научная установка - Имитационно-натурный гидроакустический комплекс (ИНГАК)

УНУ "Имитационно-натурный гидроакустический комплекс" позволяет обеспечить весь спектр исследований антенных систем, начиная с имитационного моделирования и заканчивая натурными морскими испытаниями гидроакустической аппаратуры. УНУ ИНГАК позволяет выполнять междисциплинарные исследования в следующих областях: 1) акустические измерения 2) гидроакустическая аппаратура 3) оптоакустика 4) применение нанокомпозитных материалов в акустических антеннах 5) экологический мониторинг 6) поиск и разведка полезных ископаемых 7) биоакустика.

Сайт УНУ ИНГАК

1)        Лазерный анализатор размеров частиц "Анализетте 22 Compact"

("FRIТSCH" Германия, 2007г.)

 

Анализатор определяет распределение по размерам частиц в суспензиях, эмульсиях, в сухих веществах и аэрозолях. Принцип работы прибора основан на физическом принципе дифракции электромагнитных волн. Свет параллельного лазерного луча преломляется при прохождении через частицу и отклоняется на фиксированные углы, которые зависят от диаметра и оптических свойств частиц. Сходящиеся в одной точке линзы фокусируют рассеянный свет в кольце на центральной панели, где детектор измеряет распределение световой энергии. Распределение частиц вычисляется с помощью комплекса математических методов.


Технические особенности:

-диапазон измерений  - 0,3-300мкм;

- время измерения  - 10 сек (перерыв 3мин.);

- количество пробы : в жидкости (400мл.) - 0,1-0,2 см.куб.;

в сухом веществе - 5-50 см.куб.


2)      Порошковый дифрактометр ARLX*TRA,

       ("Thermo Fisher Scientific" Швейцария, 2007г.)

 Для определения состава любых поли- и монокристаллических веществ, используемых или получаемых в процессе производства в металлургической, химической, строительной, армацевтической промышленности, при проведении экспертиз и анализов  в области криминалистики и медицины, а так же при проведении научных исследований.

Позволяет анализировать широкий спектр материалов.
Возможно исследование непрессованных порошков, что позволяет использовать прибор в лакокрасочной и фармацевтической промышленностях.
Перечень наиболее часто исследуемых натуральных или искусственных материалов органической или неорганической химии:
- химикаты;
-фармацевтика;
- медицина (определение камней в почках);
- минеральные кристаллические вещества (асбест, скальные породы, минеральные глины, цеолиты);
- металлы;
- цемент и строительные материалы;
- пигменты;

- тонкие плёнки, покрытия;

- исследование фазовых переходов.


Проведение исследований возможно при температурах от -196 до +1200 ºС.

3)      Растровый электронный микроскоп JSM-6390LA в комплекте с системой рентгеновского микроанализа JEOLJED-2300

                                                                    (TOKYO BOEKI Ltd,  JEOL, Япония,2007г.)

 

Растровый (сканирующий) электронный микроскоп предназначены для анализа микро- и наноструктуры  поверхности различных образцов. Базовое оснащение позволяет изучить морфологию поверхности образца, проводить измерения размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нанообъектов  до нескольких нанометров с увеличениями до 600тыс. крат.
Все операции по управлению микроскопом компьютеризированы и могут выполняться с помощью мышки и дополнительного выносного пульта. Благодаря уникальной конденсорной линзе с переменным фокусным расстоянием, разработанной фирмой JEOL, фокусировка и положение поля зрения даже на очень больших увеличениях поддерживаются неизменным.
Имеется  в дополнение к обычному, высоковакуумному, низковакуумный режим работы. В таком режиме можно изучать непроводящие образцы безо всякого препарирования, а затем проанализировать их с помощью энергодисперсионного спектрометра.
Эвцентрический столик образца не меняет поле зрения (точку интереса) и фокусировку при вращении и наклоне образца. Столик предназначен для наблюдения особенностей строения поверхности образцов, в том числе, под разными углами. Вы можете наблюдать третье измерение ; глубину образца и строить трехмерные изображения, путём получения серий стереоизображений. Качество стереоизображений напрямую зависит от того, насколько точно сохраняется исходное положение образца при его вращении и наклоне.

4)      Дериватограф Diamond TG\DTA  

                                    ("Perkin Elmer",США, 2006г.)

 


      Предназначен для измерения изменения массы образца при его нагревании, охлаждении или при постоянной температуре. В одном приборе объединены две системы: термовесы (ТГ) и дифференциальный термический анализатор (ДТА). Одновременная регистрация изменения массы образца и процессов, сопровождающихся выделением или поглощением тепла, позволяет существенно расширить области применения этих двух методов. Используется для определения кислородного коэффициента порошков оксидов металлов, анализа влажности и органических загрязнений порошков оксидного топлива. Используется при проведении оценки качества различных материалов и химикатов. Методом ДТ анализа в одной пробе определяют: температуру плавления, содержания влаги, летучих, золы, а также наличие окислительных процессов. Кроме того, прибор позволяет определять термостабильность материалов и влияние на этот показатель различных примесей.

 5)      Сканирующий зондовый микроскоп SolverPRO-M,  ("НТ-МДТ" Россия, 2005г.)

Сканирующий зондовый микроскоп предназначен для анализа микро ; и  наноструктуры поверхности различных образцов. В основе работы СЗМ лежит силовое взаимодействие между зондом и поверхностью, для регистрации которого используются специальные зондовые датчики, представляющие собой упругую консоль с острым зондом на конце. Модульный принцип конструкции обеспечивает уникальную возможность конфигурировать прибор для определённых применений и конкретных методик исследования свойств поверхности в масштабе нанометров. Позволяет визуализировать и количественно измерять механические (твердость, упругость, вязкость и т. д.), электрические (проводимость, емкость, распределение поверхностного заряда и т. д.) и магнитные свойства исследуемых объектов.
Микроскоп компьютеризирован и управляется через устройства ввода информации компьютера.


6) Установка получения тонких эпитаксиальных пленок сложных оксидов

"Плазма 50СЭ"   (ООО "Арго", Россия, 2005г.)

   Предназначена для получения методом реактивного ВЧ-распыления тонких монокристаллических пленок сложных оксидов (сегнетоэлектрики, ВТСП). Рост эпитаксиальных структур происходит за счет трехмерного упорядочения атом-кластер-кристалл. Энергетика плазменных процессов доминирует в общем процессе роста гетероэпитаксиальных пленок сложных оксидов, что достигается за счет нестандартной конструкции распылительного узла и режимов возбуждения плазмы при давлениях кислорода до 100 Па.

7) Спектральный быстродействующий эллипсометр "ЭЛЛИПС-900 АСБ"

                                                                                                 (СО РАН, НИФП, Россия, 2007г.)

 

  Позволяет проводить измерения в оптическом диапазоне от ближнего ИК вплоть до вакуумного ультрафиолета. Основная область применения - научные исследования: измерение спектров оптических постоянных и спектральных характеристик различных материалов, анализ слоистых структур, характеризация сверхчистой поверхности. Измерение толщин пленок.

8)       Климатическая камера PG-4КТ ,  ("Espec" Сorp. Япония, 2008г.)

 

     Испытания материалов, компонентов и изделий электронной аппаратуры на соответствие функциональным характеристикам в диапазоне температур от  -70до +100гр.С

Оборудование позволяет создавать производства электронной аппаратуры высшего качества и надежности, получать экономический эффект за счет повышения уровня выхода годных изделий и предупреждения дефектов на всех стадиях производства.

Внутренние размеры 1000х1000х800.  Имеет ПО, позволяющее интегрировать оборудование в автоматизированный измерительный комплекс.