Многофункциональный электронный просвечивающий микроскоп JEM F200 (JEOL) произведен в 2019 году в г. Токио (Япония).
TEM имеет минимальное ускоряющее напряжение 20 кВ и максимальное ускоряющее напряжение 200 кВ. Настроен на два ускоряющих напряжения 80кВ и 200кВ.
TEM оснащен системой объективных линз и минилинз.
TEM оснащен полюсным наконечник сверхвысокого разрешения Тип эмиттера ; вольфрамовый катод. Тип источника электронов в TEM - автоэмиссионный (с "холодной" полевой эмиссией). Монохроматичность пучка составляет 0.3 эВ. TEM оснащен блоком сканирования (ПРЭМ ; приставкой) с функциями накопления изображения, интеграцией для получения карт и спектров ЭДС и картин дифракции электронов с коррекцией дрейфа.
TEM оснащен гониометрическим столиком для образцов с контролем перемещения по осям X, Y, Z. Присутствует реализация компенсация дрейфа столика. Точность передвижения образца 1 нм. диапазон перемещения по X и Y 2 мм диапазон перемещения по Z ± 0,1 мм
TEM обеспечивает возможность работы в режимах: просвечивающий, просвечивающий сканирующий, получение дифракционных картин, проведение анализа с помощью ЭДС, а также возможность исследования магнитных доменов в образцах. Разрешение в просвечивающем режиме по точкам составляет 0,19 нм. Разрешение в просвечивающем режиме по решетке составляет 0,1 нм. Разрешение в сканирующем режиме с использованием темнопольного детектора составляет 0,14 нм. Диаметр зонда составляет 0,2 нм. Диапазон увеличений в просвечивающем режиме - от х20 до х2 млн, в сканирующем просвечивающем режиме - от х100 до х150 млн. Объективная линза имеет минимальный шаг фокуса 1 нм с длиной фокуса в 1.9 мм. Для исследования магнитных образцов микроскоп оснащен объективной минилинзой с увеличением в х60 000.
TEM оснащен кольцевым детектором светлого поля, высокоугловым детектор темного поля (HAADF), а также детектор обратно-рассеянных электронов. Образец можно наклонять на угол ±25 при использовании стандартного держателя.
TEM оборудован системой элементного анализа на базе энергодисперсионного спектрометра (EDS). Bruker Xflash 6T/60 Quantax 400-STEM. Разрешение по Kα-линии марганца - 126 эВ, площадь активной зоны детектора 60 мм2. Диапазон детектируемых элементов - от бериллия до плутония. Система оснащена программным комплексом (ESPRIT2) для построения карт распределения химических элементов, количественного элементного анализа с использованием стандартов, для точного анализа тонких образцов, программный модуль для сравнения похожих спектров
Комплект образцедержателей: стандартный держатель образцов с одной осью наклона (JEOL), держатель образцов с функцией охлаждения жидким азотом; держатель образцов с функцией нагрева до 1300°С, держатель образцов с функцией наклона по двум взаимно перпендикулярным осям, Аналитический держатель для EDS анализа.
JEOL EM-01361RSTHB
JEOL EM-21010
Gatan Model 628 Держатель с функцией нагрева с одной осью наклона
Gatan Model 646 Аналитический держатель с двумя осями наклона
Gatan Model 613 Держатель с функцией охлаждения и одной осью наклона
Микроскоп оснащен двумя цифровыми камерами бокового и нижнего крепления производства AMT. Нижнего крепления - CMOS-камера для работы в in-situ режиме и CMOS-камера бокового крепления. Разрешение каждой из камер 4096×3000 пикселов; Размер пиксела каждой из камер 3,45 мкм. Скорость считывания каждой из камер 15 кадров/сек на максимальном разрешении. Вычислительная машина оснащена программное обеспечение для управления цифровыми камерами, работы в режиме in-situ и обработки изображений