- Изучение морфологии нанообъектов, а также атомной структуры веществ методами в высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии (TEM и STEM)
- Изучение реальной структуры вещества на решёточном уровне
- Определение элементного состава образца, а также его картирование с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDS)
- Визуализация наночастиц с использованием электронной томографии
- Визуализация многослойных структур (гетероструктур) с атомным разрешением
- Измерение межплоскостных расстояний нанокристаллов с помощью TEM
- Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной нанодифракции, электронной томографии обратного пространства.
- Комплексное исследование структуры тонких двухслойных плёнок (методами просвечивающей электронной микроскопии, дифракции электронов и рентгеноспектрального микроанализа)
- Исследование тонкой структуры дефектов
- Проведение кристаллогеометрического анализа
- Проведение фазового анализа
- Исследование 2D структуры углеродных объектов (углеродные нанотрубки, графен, флюорографен, графит и пр.)
- Исследование прочих 2D систем методом просвечивающей электронной микроскопии
- Изучение полупроводниковых, полимерных объектов