Перечень методик, применяемых в ЦКП Нанотехнологии:
| N | Наименование методики | Наименование организации, аттестовавшей методику | Дата аттестации число, месяц, год |
| 1 | Методика выполнения измерений геометрических параметров массивов оксидных наноразмерных структур методом атомно-силовой микроскопии | ФБУ "Ростовский ЦСМ" | 16.12.2009 |
| 2 | Методика измерения высоты массива вертикально ориентированных углеродных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии | ФБУ "Ростовский ЦСМ" | 14.10.2011 |
| 3 | Методика измерения механических параметров вертикально ориентированных углеродных нанотрубок методом наноиндентирования | ФБУ "Ростовский ЦСМ" | 14.10.2011 |
| 4 | Методика измерения удельного сопротивления гомогенных полупроводниковых материалов методом атомно-силовой микроскопии | ФБУ "Ростовский ЦСМ" | 14.10.2011 |
Документы по методикам:
- Методика выполнения измерений геометрических параметров массивов оксидных наноразмерных структур методом атомно-силовой микроскопии
- Методика измерений удельного сопротивления гомогенных полупроводниковых материалов методом атомно-силовой микроскопии
- Методика измерений механических параметров вертикально ориентированных нанотрубок методом наноиндентирования
- Методика измерений высоты массива вертикально-ориентированнных нанотрубок методом атомно-силовой микроскопии